// Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
Die Flugzeitmassenspektrometrie sekundärer Ionen ist eine Analysemethode, die lateral aufgelöste Tiefenprofile ermöglicht. Mit unserem Gerät TOF.SIMS 5 der Fa. IONTOF können alle Elemente des Periodensystems detektiert werden.
- Erfassen von Spurenelementen bis zu einer Konzentration von wenigen ppm
- Massenauflösung von 12.000, was eine Unterscheidung von O2 zu S ermöglicht
- 3D-Tiefenprofilierung im Mikrometerbereich mit einer maximalen lateralen Auflösung von 200 nm (Matrixelemente)
- Quantifizierung der Tiefenprofile über Referenzproben
- Detektion ganzer organischer Moleküle oder ihrer Fraktionen, Massen bis 10.000 u
- Messung isolierender Materialien über Ladungskompensation
- Messung mobiler Ionen durch gekühlten Probenhalter und sanfte Sputterquellen
- Probenhandling von luft- oder wasserempfindlichen Proben
blau: Molybdän; rot und grün Natrium und Silizium des freigelegten Glases.
