Mit einem neuen Rasterelektronenmikroskop können Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler am Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg (ZSW) Solarzellen künftig besser erforschen. Das im Januar 2020 vollständig in Betrieb genommene Gerät kann Strukturen mit einer Größe von wenigen Nanometern sichtbar machen – eine doppelt so hohe Auflösung wie bisher. Zudem sind nun äußerst präzise geglättete Querschnitte von Schichten dank eines zugehörigen fokussierten Ionenstrahls möglich. Mit dem Fokus auf die Nanometerebene soll ein besseres Verständnis des Aufbaus und der Grenzflächen von Dünnschichtsolarzellen erreicht werden. Ziel der Forschenden ist es, Defekte genauer zu untersuchen. Für die Qualitätskontrolle in der Solarindustrie ist das von entscheidender Bedeutung ebenso wie für die weitere Effizienzsteigerung von Solarzellen. Effizientere Solarzellen können den ohnehin schon sehr geringen CO2-Fußabdruck der Photovoltaik weiter verkleinern und so ihren Beitrag zum Klimaschutz vergrößern.
Ein Video zeigt die Vorteile des neuen Rasterelektronenmikroskops mit dem fokussierten Ionenstrahl, abgekürzt FIB-SEM (FIB für Focussed Ion Beam und SEM für Scanning Electron Microscope): www.zsw-bw.de/mediathek/filme.html
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